局部放電試驗中的干擾類型和方式

　干擾會降低局部放電測試的檢測靈敏度，應將干擾電平抑制到低水平。干擾的種類通常包括：電源干擾、接地系統(tǒng)干擾、電磁輻射干擾、測試設備各部件的放電干擾、各種接觸干擾。這些干擾及其對測試回路的訪問。

　　一、電源干擾。探測器和測試變壓器使用的電源連接到低壓配電網(wǎng)，配電網(wǎng)中的各種高頻信號會直接造成干擾。因此，通常采用屏蔽電源隔離變壓器和低通濾波器進行抑制，效果非常好。

　　二、接地干擾。測試電路接地不當。例如，在有兩個或多個地的接地網(wǎng)系統(tǒng)中，各種高頻信號會通過接地線耦合到測試電路中，造成干擾。這種干擾通常與測試電壓水平無關。測試電路使用單點接地來減少這種干擾。

　　三、電磁輻射干擾。在高壓帶電設備或高壓輸電線路附近，無線電發(fā)射機和除測試電路之外的其他高頻信號如晶閘管和電刷以電磁感應或電磁輻射的形式耦合到雜散或雜散電感上。測試電路，其波形往往難以與樣品的內部放電區(qū)分開來，對現(xiàn)場測量影響很大。它的特點是與測試電壓無關。消除這種干擾的基本對策是將樣品放置在良好屏蔽的實驗室中。使用平衡法、對稱法和模擬天線法的測試回路也可以抑制輻射干擾。

　　四、暫停的潛在放電干擾。由靠近測試電路的未接地金屬產(chǎn)生的感應浮動電位放電也是一種常見的干擾類型。它的特點是測試電壓升高，但其波形一般更容易識別。消除的對策一是遠離，二是接地。

　　五、電暈放電和每個接頭處的接觸放電干擾。電暈放電發(fā)生在高電位的試驗電路的導電部分，如試件法蘭、金屬帽、試驗變壓器、耦合電容端部、高壓端部等。帶領。由于各連接處接觸不良，測試電路中也可能出現(xiàn)接觸放電干擾。這兩種干擾的特性隨著測試電壓的增加而增加。消除此類干擾的方法是在高壓端采用防暈環(huán)措施（如防暈環(huán)），高壓引線采用不導暈的導電管，接頭之間接觸良好。

　　六、測試變壓器和耦合電容的內部放電干擾。這種放電很容易與樣品的內部放電相混淆。因此，所用試驗變壓器和耦合電容的局部放電水平應控制在一定的允許量以下。